Сканирующий зондовый микроскоп наноэдюкатор II
Атомно-силовой микроскоп (АСМ), который сочетает в себе простоту, низкую стоимость эксплуатации и высокое пространственное разрешение при исследовании рельефа объектов и определении их физико-химических свойств. Это сочетание позволяет использовать Наноэдюкатор как в образовательных целях, так и в рутинных научных исследованиях.
Возможности:
- атомарное разрешение при исследованиях методами атомно-силовой микроскопии (АСМ) и сканирующей туннельной микроскопии (СТМ);
- улучшенное качество результатов сканирования и более высокая производительность благодаря использованию нового цифрового контроллера;
- возможность использовать профессиональные кремниевые АСМ-зонды;
- сканер с емкостными датчиками перемещения;
- новое программное обеспечение;
- простота и удобство настроек;
- управление через Интернет.
Методики Атомной силовой микроскопии
- Контактная АСМ
- Метод постоянной высоты.
- Метод постоянной силы.
- Контактный метод рассогласования.
- Метод латеральных сил.
- Отображение сопротивления растекания.
- Метод модуляции силы.
- Силовая микроскопия пьезоэлектрического отклика.
- Амплитудно-модуляционная АСМ
- «Полуконтактный» метод.
- Метод отображения фазы.
- «Полуконтактный» метод рассогласования.
- Бесконтактный метод.
- Электростатическая АСМ
- Контактная ЭСМ.
- ЭСМ.
- Сканирующая емкостная микроскопия.
- Кельвин зондовая микроскопия.
- Магнитная АСМ
- Статическая МСМ.
- Динамическая МСМ.
- Диссипативная силовая микроскопия.
- АСМ спектроскопия
- Силовая спектроскопия.
- Отображение адгезионных сил.
- Амплитудная спектроскопия.
- Фазовая спектроскопия.
- Частотная спектроскопия.
- Резонансная спектроскопия.
- СТМ методики
- Метод постоянного тока.
- Метод постоянной высоты.
- Отображение работы выхода.
- Отображение плотности состояний.
- I(z) Спектроскопия.
- I(V) Спектроскопия.
- Литография
- АСМ анодно-окислительная литография.
- СТМ литография.
- АСМ литография - гравировка.
- АСМ литография - чеканка.