Сканирующий зондовый микроскоп наноэдюкатор II

Атомно-силовой микроскоп (АСМ), который сочетает в себе простоту, низкую стоимость эксплуатации и высокое пространственное разрешение при исследовании рельефа объектов и определении их физико-химических свойств. Это сочетание позволяет использовать Наноэдюкатор как в образовательных целях, так и в рутинных научных исследованиях.

Возможности:

• атомарное разрешение при исследованиях методами атомно-силовой микроскопии (АСМ) и сканирующей туннельной микроскопии (СТМ);

• улучшенное качество результатов сканирования и более высокая производительность благодаря использованию нового цифрового контроллера;

• возможность использовать профессиональные кремниевые АСМ-зонды;

• сканер с емкостными датчиками перемещения;

• новое программное обеспечение;

• простота и удобство настроек;

• управление через Интернет.

Методики Атомной силовой микроскопии

• Контактная АСМ
• Метод постоянной высоты.
• Метод постоянной силы.
• Контактный метод рассогласования.
• Метод латеральных сил.
• Отображение сопротивления растекания.
• Метод модуляции силы.
• Силовая микроскопия пьезоэлектрического отклика.

• Амплитудно-модуляционная АСМ
• «Полуконтактный» метод.
• Метод отображения фазы.
• «Полуконтактный» метод рассогласования.
• Бесконтактный метод.

• Электростатическая АСМ
• Контактная ЭСМ.
• ЭСМ.
• Сканирующая емкостная микроскопия.
• Кельвин зондовая микроскопия.

• Магнитная АСМ
• Статическая МСМ.
• Динамическая МСМ.
• Диссипативная силовая микроскопия.   
  

• АСМ спектроскопия
• Силовая спектроскопия.
• Отображение адгезионных сил.
• Амплитудная спектроскопия.
• Фазовая спектроскопия.
• Частотная спектроскопия.
• Резонансная спектроскопия.

• СТМ методики
• Метод постоянного тока.
• Метод постоянной высоты.
• Отображение работы выхода.
• Отображение плотности состояний.
• I(z) Спектроскопия.
• I(V) Спектроскопия.

• Литография
• АСМ анодно-окислительная литография.
• СТМ литография.
• АСМ литография - гравировка.
• АСМ литография - чеканка.